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 產品展示-無損檢測儀器
MC-2000DE新型涂層測厚儀名    稱:MC-2000DE新型涂層測厚儀
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發布日期:2019-7-4 13:35:19
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 本儀器采用了磁性和渦流兩種測厚方法,可無損地測量磁性金屬(如鋼、鐵、鎳、合金和硬磁性鋼等)基體上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等),及非磁性金屬基體(如銅、鋁、不銹鋼、鋅、錫等)上非導電覆蓋層的厚度(:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。

磁性法
(F型測頭)      當測頭與覆蓋層接觸時,測頭和磁性金屬基體構成一閉合磁路,由于非磁性覆蓋層的存在,使磁路磁阻變化,通過測量其變化可導出覆蓋層的厚度。

渦流法
(N型測頭)  利用高頻交變電流在線圈中產生一個電磁場,當測頭與覆蓋層接觸時,金屬基體上產生電渦流,并對測頭中的線圈產生反饋作用,通過測量反饋作用的大小可導出覆蓋層的厚度。

F10探頭測量范圍是10毫米。更多涂層測厚儀的技術資料ac米兰vs切沃北京单场


 

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